世复检测

翻盖/滑盖寿命测试技术服务

1.翻盖/滑盖寿命实验标准:
   中国移动TD终端测试规范--结构及硬件V2.0,YD/T 1539-2006

2.翻盖/滑盖寿命实验方法:
  (1) 对试验样品进行外观、功能和装配的检测。
  (2) 测试样品处于开机状态,将测试样品固定于测试台面上。
  (3) 设置测试次数为60000次,在完成翻盖/滑盖测试后,对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

3.翻盖/滑盖寿命实验判断标准:
  (1) 测试样品功能不能发生任何失效或者削减,包括但不限于以下功能,如开关机,拨打接听电话,屏幕显示,铃音播放等。
  (2) 测试样品不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下问题,如壳体的开裂,不可恢复性的缝隙,结构件的变形等。
  (3) 转轴/滑轨相关结构不能有明显的磨损或撕扯。

如需了解更多翻盖/滑盖寿命实验,请咨询上海世复检测。
公司网址:http://www.sft-lab.com.cn  
服务热线:021-5130-0821
公司邮箱:E-mail:sales@sft-lab.com.cn
公司地址:上海市宝山区逸仙路1277号1楼

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