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芯片浪涌(冲击)抗扰度测试方法

发布日期:2025年06月10日

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  电磁兼容性(EMC)是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此,EMC包括两个方面的要求:一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值;另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度,即电磁敏感性。芯片在进入市场销售前需要进行进行SURGE-浪涌(冲击)抗扰度测试,用以检测芯片产品能否在电磁环境中稳定工作,不受影响。

  浪涌(冲击)抗扰度测试只是电磁兼容抗扰度测试的一种,以下对浪涌测试做详细的介绍:

  一、浪涌测试的定义与目的

  定义:

  浪涌测试是模拟自然界雷击、电网开关操作、静电放电等瞬态过电压 / 过电流现象,评估电子电气设备在遭受短时高能脉冲干扰时的抗干扰能力和稳定性。

芯片浪涌(冲击)抗扰度测试方法

  浪涌测试的目的:

  1. 验证设备能否在浪涌冲击下正常工作,不出现硬件损坏、功能紊乱或数据丢失。

  2. 确保设备符合国际 / 国内电磁兼容标准,提升产品可靠性和市场准入资格。

  浪涌测试的方法:

  1,分别对电源端口、信号端口进行差模(线 - 线)和共模(线 - 地)测试。

  2,每个极性(正 / 负)施加至少 5 次脉冲,之后观察设备状况。

  浪涌测试是电磁兼容认证的重要环节,通过模拟极端瞬态干扰,验证设备在真实环境中的抗扰能力。设计阶段需结合防护器件选型、接地策略和布局优化,而测试阶段则需严格遵循标准流程,确保测试结果准确可靠。

  若还有其他关于浪涌测试的问题,请联系世复检测技术服务有限公司专业技术人员为你解答,或拨打公司咨询电话021-65667889。

  杨老师:18918072981

  郭老师:18516391618

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