电子天平高低温测试

测试目的

电子天平作为精密测量仪器,其性能易受环境温度影响。高低温测试旨在验证电子天平在极端温度条件下的称量准确性、稳定性及可靠性,确保其在各种环境下均能正常工作。  

测试标准

• GB/T 2423.1-2021(低温试验方法)  

• GB/T 2423.2-2021(高温试验方法)  

• JJG 1036-2022(电子天平检定规程)  

• IEC 60751(工业过程测量和控制设备的温度适应性)  

测试设备

• 高低温试验箱(温度范围:-20℃~+70℃,精度±1℃)  

• 标准砝码(等级:E2/F1,覆盖天平量程)  

• 数据记录仪(实时监测温度与称重数据)  


测试项目

(1) 低温测试

• 温度范围:-10℃(或按产品规格书要求)  

• 测试步骤:  

1. 将电子天平置于低温箱中,断电状态下静置2小时使其充分冷却。  

2. 通电预热30分钟后,用标准砝码进行零点校准和量程测试(如10%、50%、100%量程点)。  

3. 记录各测试点的示值误差,判断是否满足JJG 1036-2022的允差要求。  

• 合格标准:  

示值误差≤±1e(e为天平检定分度值)  

无显示异常、按键失灵或漂移现象。  

(2) 高温测试

• 温度范围:+50℃(或按产品规格书要求)  

• 测试步骤:  

1. 将电子天平放入高温箱,断电状态下静置2小时使其温度稳定。  

2. 通电预热30分钟,重复低温测试中的称量步骤。  

3. 检查天平在高温下的重复性(同一砝码连续称量10次,标准偏差≤0.5e)。  

• 合格标准:  

示值误差及重复性符合检定规程要求。  

无元器件过热、液晶屏模糊或功能异常。  

(3) 温度循环测试(可选)

• 条件:-10℃→+50℃→25℃,每阶段保持1小时,循环5次。  

• 目的:验证温度骤变对天平的影响(如传感器漂移、结构变形)。  

测试报告

测试报告需包含以下内容:  

• 测试环境(温度、湿度、设备型号)  

• 测试数据(各温度点称量误差、重复性)  

• 结论(是否符合标准要求)  

若还有其他问题,请联系世复检测技术服务有限公司专业技术人员为你解答,或拨打公司咨询电话:021-65667889

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