世复检测

表面温升测试

1.表面温升测试标准:

   中国移动TD终端测试规范结果和硬件V2.0GB4943-2012

2.表面温升测试方法:

 (1 手机在GSM900模式下与基站模拟器建立无线通信连接,并设置为最大功率(33dBm)发射。

 (2 手机屏幕处于灭屏、非充电状态。

 (3 使用IR Camera记录测试样品正面(A Cover)表面最高温度点的温度和位置,持续45分钟。

 (4 完成正面测试后,使用IR Camera记录测试样品背面(B Cover)表面当时的最高温度点的温度和位置。

3.表面温升测试判断标准:

 (1 测试起始时,测试样品表面温度应与测试环境温度一致,即25°C

 (2 对于手机的大面积金属表面,最高温度点应低于40°C

 (3 对于手机的其他材质表面,最高温度点应低于47°C

如需了解更多表面温升测试,请咨询上海世复检测中心。

服务热线:021-5130-0821
公司邮箱:E-mail:sales@sft-lab.com.cn
公司地址:上海市闵行区梅陇西路968号

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